《自然-通訊》本週發表的一篇論文

Circulating trophoblast cell clusters for early detection of placenta accreta spectrum disorders

描

述了一種針對胎盤植入譜系

（placenta accreta spectrum，PAS）

疾病

（妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層）

的無創早期診斷技術。

這種疾病會導致孕產婦在分娩中死亡，研究結果或能輔助該病的早診斷。

胎盤植入譜系疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤，是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層，且在分娩時無法脫落。這會造成嚴重出血，而嚴重出血有時會導致孕產婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然有效，但有時不夠準確，抑或是在資源匱乏的地區難以獲得。

美國加州大學洛杉磯分校的曾憲榮、朱亞珍和同事對之前開發的NanoVelcro晶片進行了最佳化，該晶片包含很細的矽奈米線，外部塗有能檢測迴圈滋養層細胞（組成胎盤的細胞）的抗體。這些細胞會在胎盤發育過程中單個或聚集脫落到母體血液迴圈中，細胞數量的增加可能提示PAS。作者對168位孕婦進行了血檢，有些孕婦被診斷患有PAS，有些被診斷為胎盤前置（胎盤覆蓋宮頸內口），有些胎盤形成正常。他們發現，

PAS組的單個和聚集迴圈滋養層細胞計數比其他兩個組更高。

他們還發現，

單個和聚集迴圈滋養層細胞的數量有助於在妊娠早期將PAS從前置胎盤和正常胎盤中區分出來。

作者指出，仍需利用更大樣本開展進一步研究，但這種診斷技術有望在將來補充現有技術，提高妊娠早期診斷胎盤植入譜系疾病的準確性。

用於檢測胎盤植入譜系（PAS）中單個和聚集迴圈滋養層細胞的奈米尼龍搭扣晶片。來源：Afsharet al。

Nature